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紫外测试采集系统
仪器名称 紫外测试采集系统 仪器型号 非标
仪器编号 17-110500-00325 仪器来源 研制
生产厂商 北京理工大学 启用日期 2016.02.20
仪器类别 C类 仪器原值 710000
所在部门单位 空间环境探测研究室
仪器负责人 龙尧 联系电话 62582635
地址 怀柔园区4号楼D0106 邮编 101400
E-mail
主要技术指标 1紫外平行光管:
焦距:≥1500mm
口径:≥Φ150mm
波段:300nm~780nm(长波可超过780nm)
光源:150W氙灯
平行性:10’以内
分划板:带分辨率板。
2 采集控制系统
每通道16位同步采样速率4 MS/s;
100MHz以内的任意波形;
能对1553B总线进行监控和测试;
与RS485和RS232设备达3 Mbit/s的高速通信
LabView软件
包含主要附件 A、紫外平行光管的附件主要有:
1、全套分划板
2、镜管支架
3、电源
4、照明光源
B、采集控制系统的主要附件有:
1、PXIe-6124多功能同步采样卡
2、PXIe-5442任意波形发生器
3、PXI-8433/4 RS422/485接口卡
4、PXI-C1553-3U-M1-EF 1553B通信接口卡
5、NI PXIe-1082 8槽3U PXI Express机箱
6、NI PXIe-8135 2.3 GHz四核PXI Express控制器
仪器主要功能 本系统主要是用于所研制的探测器整机大视场、高空间分辨率、成像质量测试和高灵敏度等方面的性能测试,并具备对CCD的线性度和像素不均匀性测试,以及CCD系统电子学系统测试和定标等部件级的测试功能。
仪器服务领域 航天
计量认证资质 实验室认可
仪器现状 完好
收费标准 1500/小时
仪器图片