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集成电路高温动态老化系统
仪器名称 集成电路高温动态老化系统 仪器型号 BTI-E3000AT/3
仪器编号 13-118504-01093 仪器来源 国产
生产厂商 杭州中安电子有限公司 启用日期 2012-12-13
仪器类别 反偏/老炼 仪器原值 370000.0
所在部门单位 质量可靠性实验室
仪器负责人 杜磊 联系电话 010-52804252
地址 怀柔园区4号楼D0605 邮编 100190
E-mail dulei@udaipurlightfestival.com
主要技术指标 150℃试验温度,最大64路,信号频率2Mhz,程控电源2-18V/10A
包含主要附件 老化板
仪器主要功能 集成电路的高温动态老炼实验
仪器服务领域 元器件检测
计量认证资质 实验室认可
仪器现状 完好
收费标准 所外:12元/小时 所内:10元/小时
仪器图片